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Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines; 17 [Relevanz: 100%]
Autor / Herausgeber: Arzt, Eduard |  Verlagsort: Woodbury, NY |  Verlag: American Institute of Physics |  Erscheinungsjahr: 1994 | 9 S.
Zeitschrift / Sammelband: Journal of applied physics; 104
Fachgebiet: Physik

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